當(dāng)樣品受到頻率連續(xù)變化的紅外光照射時(shí)，物質(zhì)分子吸收了某些頻率的輻射，并由其振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)引起偶極矩的凈變化，產(chǎn)生分子振動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)從基態(tài)到激發(fā)態(tài)的躍遷，使相應(yīng)于這些吸收區(qū)域的透射光強(qiáng)度減弱。記錄紅外光的百分透射比(或吸收度)與波數(shù)或波長(zhǎng)關(guān)系曲線，就得到紅外光譜，根據(jù)譜帶的位置、峰形及強(qiáng)度，就得到紅外光譜，根據(jù)譜帶的位置、峰形及強(qiáng)度，對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行分析。

　　傅里葉近紅外光譜儀的常見故障的解決辦法

　　(1)干涉圖能量低，導(dǎo)致信噪比不理想

　　可能原因：

　　1.光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置；

　　2.紅外光源已損壞或能量已衰竭

　　3.檢測(cè)器已損壞或MCT檢測(cè)器無液氮；

　　4.分束器損壞；

　　5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟；

　　6.光闌孔徑太小或信號(hào)增益倍數(shù)太小；

　　7.圓光路中有衰減器。

　　排除方法：

　　1.啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準(zhǔn)直；

　　2.更換紅外光源；

　　3.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換檢測(cè)器(檢測(cè)器損壞很有可能是由于受潮引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，對(duì)于MCT檢測(cè)器可添加液氮再重新檢查；

　　4.請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)；

　　5.請(qǐng)維修工程師清洗；

　　6.重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；

　　7.取下光路中的衰減器。

　　(2)光學(xué)臺(tái)未能工作，不能產(chǎn)生干涉圖

　　可能原因：

　　1.分束器未固定好或已損壞；

　　2.計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺(tái)未能連接；

　　3.控制電路板損壞；

　　4.光譜儀輸出電壓不正常；

　　5.操作軟件有問題；

　　6.光譜儀室溫度過高或過低；

　　7.檢測(cè)器已*損壞；

　　8.He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。

　　排除方法：

　　1.重新固定分束器，如分束器已損壞，請(qǐng)維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很有可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)；

　　2.檢查計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺(tái)連接口，鎖緊接口，重新啟動(dòng)光學(xué)臺(tái)和計(jì)算；

　　3.與維修工程師聯(lián)系，或請(qǐng)維修工程師檢査，必要時(shí)更換控制電路板(更換后，要再次檢査穩(wěn)壓電源工作效率和儀器室電源有無問題)；

　　4.檢査光譜儀面板上指示燈，有自診斷程序可啟動(dòng)診斷，檢查輸出電源是否正常，排查故障原因，并與維修工程師聯(lián)系處理方法；

　　5.重新安裝操作軟件；

　　6.過空調(diào)調(diào)控室溫；7.更換檢測(cè)器；

　　8.檢查He-Ne激光器工作是否正常，及時(shí)請(qǐng)維修工程師維修。

　　(3)干涉圖能量過高，導(dǎo)致溢出

　　可能原因：

　　1.光闌孔徑太大或信號(hào)増益倍數(shù)太高；

　　2.動(dòng)鏡移動(dòng)速度太慢。

　　排除方法：

　　1.重新設(shè)置光闌孔徑或信號(hào)增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；

　　2.重新設(shè)置動(dòng)鏡移動(dòng)速度。

　　(4)干涉圖不穩(wěn)定

　　可能原因：

　　1.控制電路板損傷或疲勞；

　　2.所使用的MCT檢測(cè)器真空度降低或窗口有冷凝水：

　　3.測(cè)量遠(yuǎn)紅外區(qū)時(shí)樣品室氣流不穩(wěn)定。

　　排除方法：

　　1.請(qǐng)維修工程師檢查維修：

　　2.對(duì)MCT檢測(cè)器重新抽真空；

　　3.待樣品室氣流穩(wěn)定后再測(cè)試。